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題 名 | System-on-Chip及Mixed-Signal測試發展趨勢=The Trend of System-on-Chip and Mixed-Signal Testing |
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作 者 | 邱青松; | 書刊名 | 電腦與通訊 |
卷 期 | 70 1998.06[民87.06] |
頁 次 | 頁60-66 |
專 輯 | 電子構裝及測試技術專輯 |
分類號 | 448.57 |
關鍵詞 | 系統晶片測試; 混合訊號測試; 可測試性設計; System-on-chip test; Mixed-signal test; Design for testability; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | System-on-chip及Mixed-Signal I.C.是未來的發展趨勢,本文探討 測試上即將面臨的問題,討論各 種core type以及如何測試embedded core 與整合測試等問題。也探討 Mixed-Signal I.C.中類比電路fault的 形態與數位電路的不同,以及類 比電路量產測試的方法與設計上 之DFT、BIST等問題。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。