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題名 | CCL JAVA整合型晶片測試方法=Testing Method for CCL JAVA Based System on Chip |
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作者 | 王建雄; Wang, Jason; |
期刊 | 電腦與通訊 |
出版日期 | 20000600 |
卷期 | 90 2000.06[民89.06] |
頁次 | 頁65-68 |
分類號 | 448.552 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 可測試性設計; 智權元件; 模組; 液晶顯示; 通用型輸入/輸出; Design for testability; DFT; Intellectual properties; IP; Module; Liquid crystal display; LCD; General purpose input/output; GPIO; |
中文摘要 | 隨著製程技術的進步與市場的需求,越來越多設計者朝向整合型晶片 的開發;晶片功能變得更複雜,成本也增加了,相對的測試需求就越顯得重要, 而測試時間成本與測試完整性 的衡量標準,取決於測試人員對於電路設計與製 程技術的瞭解,因此,完整的測試工程將涵蓋設計及製程領域。本文將提出在參 與JAVA PCA計畫時,規劃的驗證方法與問題的分析,並提供一個簡單的DFT 範例介紹。 |
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