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| 題 名 | CCL JAVA整合型晶片測試方法=Testing Method for CCL JAVA Based System on Chip |
|---|---|
| 作 者 | 王建雄; | 書刊名 | 電腦與通訊 |
| 卷 期 | 90 2000.06[民89.06] |
| 頁 次 | 頁65-68 |
| 專 輯 | 電子構裝及測試技術專輯 |
| 分類號 | 448.552 |
| 關鍵詞 | 可測試性設計; 智權元件; 模組; 液晶顯示; 通用型輸入/輸出; Design for testability; DFT; Intellectual properties; IP; Module; Liquid crystal display; LCD; General purpose input/output; GPIO; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |
| 中文摘要 | 隨著製程技術的進步與市場的需求,越來越多設計者朝向整合型晶片 的開發;晶片功能變得更複雜,成本也增加了,相對的測試需求就越顯得重要, 而測試時間成本與測試完整性 的衡量標準,取決於測試人員對於電路設計與製 程技術的瞭解,因此,完整的測試工程將涵蓋設計及製程領域。本文將提出在參 與JAVA PCA計畫時,規劃的驗證方法與問題的分析,並提供一個簡單的DFT 範例介紹。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。