您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
電腦與通訊
70 1998.06[民87.06]
頁39-40
電機工程
>
電燈廠
相關文獻
VLSI測試工程簡介
CCL JAVA整合型晶片測試方法
記憶體測試簡介
System-on-Chip及Mixed-Signal測試發展趨勢
如何在量產測試裡面發揮最有效的頻譜測試
可測試性設計--IC測試的最終答案
A Hybrid LFSR Design for Low Power Applications
可測試性設計環境及測試輔助工具
工作站晶片組可測試性的設計--方法及工具
可測試性設計技術趨勢探索
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
VLSI測試工程簡介=Introduction to VLSI Testing Engineering
作 者
邱青松
;
書刊名
電腦與通訊
卷 期
70 1998.06[民87.06]
頁 次
頁39-40
專 輯
電子構裝及測試技術專輯
分類號
448.57
關鍵詞
數位積體電路測試
;
類比積體電路測試
;
記憶體測試
;
量產測試
;
工程驗證測試
;
可測試性設計
;
System-on-chip
;
SOC
;
語 文
中文(Chinese)
中文摘要
本文簡單介紹VLSI測試的工作項目與性質,對測試工作做廣義的解釋,並簡述其 工作內容與目的。
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址