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來源資料
電腦與通訊
70 1998.06[民87.06]
頁39-40
電機工程
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電燈廠
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匯出書目
題 名
VLSI測試工程簡介=Introduction to VLSI Testing Engineering
作 者
邱青松
;
書刊名
電腦與通訊
卷 期
70 1998.06[民87.06]
頁 次
頁39-40
專 輯
電子構裝及測試技術專輯
分類號
448.57
關鍵詞
數位積體電路測試
;
類比積體電路測試
;
記憶體測試
;
量產測試
;
工程驗證測試
;
可測試性設計
;
System-on-chip
;
SOC
;
語 文
中文(Chinese)
中文摘要
本文簡單介紹VLSI測試的工作項目與性質,對測試工作做廣義的解釋,並簡述其 工作內容與目的。
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。
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