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題 名 | 記憶體測試簡介=Introduction to Memory Testing |
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作 者 | 邱青松; | 書刊名 | 電腦與通訊 |
卷 期 | 70 1998.06[民87.06] |
頁 次 | 頁52-59 |
專 輯 | 電子構裝及測試技術專輯 |
分類號 | 448.57 |
關鍵詞 | 缺陷模型; 測試圖樣; 量產測試; 測試流程; Fault model; Test pattern; Production test; Test flow; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 本文對記憶體產品,尤其是 DRAM的測試作概略的介紹,文中 簡述DRAM的電路結構與工作原 理,探討DRAM產品常使用的fault models,簡述各種不同演算法 (algorithm)的test patterns之目的與 其優缺點,最後介紹DRAM的量產 測試項目與測試流程等實務上的 問題。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。