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題名 | 工作站晶片組可測試性的設計--方法及工具= |
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作者 | 趙瑞福; 陳進松; |
期刊 | 電腦與通訊 |
出版日期 | 199503 |
卷期 | 37 1995.03[民84.03] |
頁次 | 頁20-28 |
分類號 | 471.62 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 可測試性設計; 邊界掃描; 全掃描; 部份掃描; 可測試性分析; 循序測試向量自動產生器; 內建自我測試; Design for testability; DFT; Boundary scan; Fully scan; Partial scan; Testability analysis; Sequential automatic test pattern generator; SATPG; Built in self test; BIST; |