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題 名 | Core-Based System-on-Chip Testing: Challenges and Opportunities=核心系統晶片測試--挑戰與機會 |
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作 者 | 吳誠文; 李進福; 黃稚存; | 書刊名 | Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering |
卷 期 | 8:4 2001.11[民90.11] |
頁 次 | 頁335-353 |
分類號 | 448.552 |
關鍵詞 | 內建自我測試; 核心測試語言; IC測試; IEEE P1500標準; 系統晶片; 測試排程; Built-in self-test; BIST; Core test language; IC testing; IEEE P1500 standard; System-on-chip; SOC; Test scheduling; |
語 文 | 英文(English) |