查詢結果
檢索結果筆數(8)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
-
- 題 名:
Core-Based System-on-Chip Testing: Challenges and Opportunities:核心系統晶片測試--挑戰與機會
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁335-353
- 題 名:
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
160 2014.12[民103.12]
- 頁 次:
頁74-84
-
- 題 名:
SETBIST: An Soft-Error Tolerant Built-in Self-Test Scheme for Random Access Memories:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2 2011.03[民100.03]
- 頁 次:
頁643-656
- 題 名:
-
- 題 名:
適用於三維晶片鍵合後穿矽孔測試的內建自我測試方法:A Built-in Self-test Scheme for the Post-bond Test of TSVs in 3-D ICs
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
141 2011.10[民100.10]
- 頁 次:
頁100-107
- 題 名:
-
- 題 名:
應用於三維晶片之測試界面設計:Test Interface Design for 3-D IC Applications
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
141 2011.10[民100.10]
- 頁 次:
頁108-115
- 題 名:
-
- 題 名:
IEEE P1687 (IJTAG)測試標準介紹:Introduction to IEEE P1687 (IJTAG) Test Standard
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11 2009.12[民98.12]
- 頁 次:
頁17-24
- 題 名:
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:2 1980.06[民69.06]
- 頁 次:
頁163-166
-
- 題 名:
A Self-Repair Technique for Content Addressable Memories with Address-Input-Free Writing Function:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:3 2013.05[民102.05]
- 頁 次:
頁493-507
- 題 名: