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題 名 | 可測試性設計環境及測試輔助工具 |
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作 者 | 劉毅鈞; 吳維修; 陳美麗; | 書刊名 | 電腦與通訊 |
卷 期 | 26 1994.02[民83.02] |
頁 次 | 頁9-16 |
專 輯 | 積體電路設計技術專輯 |
分類號 | 448.57 |
關鍵詞 | 可測試性設計; 激發率; 電子設計自動化; 測試向量; 結構性測試; 功能測試; 錯誤涵蓋率; 自動測試向量產生器; 全/半掃瞄設計; 內建自我測試; 邊際掃瞄; 邏輯合成器; 錯誤模擬; 可測試性評估; 共同工程; Design for testability; DFT; Toggle rate; Electronic design automation; EDA; Test vector; Structural testing; Functional testing; Fault coverage; Automatic test pattern generator; ATPG; Full/Partial scan Design; Built-in-self-test; BIST; Boundary scan; Logic synthesizer; Fault simulation; Testability measurement; Concurrent engineering; |
語 文 | 中文(Chinese) |