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來源資料
新電子科技
202 2003.01[民92.01]
頁208-213
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題 名
利用P1500標準克服SoC的測試挑戰
作 者
黃俊郎
;
書刊名
新電子科技
卷 期
202 2003.01[民92.01]
頁 次
頁208-213
分類號
448.552
關鍵詞
IC製程
;
系統晶片測試
;
SoC
;
語 文
中文(Chinese)
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