您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
機電整合
143 2010.07[民99.07]
頁131-136
相關文獻
次世代平面顯示器使用之低溫多晶矽晶粒尺寸檢測技術
非破壞性低溫多晶矽膜晶粒尺寸光學檢測技術研發
低溫多晶矽膜再結晶特性與晶粒尺寸之光學檢測系統研發
低溫多晶矽膜再結晶特性與晶粒尺寸之光學檢測系統研發
矽膜晶粒尺寸快速光學檢測技術
整合光機電系統快速解析薄膜再結晶特性研究
Fine-Structure Superplasticity in Materials
鐵-9鋁-30錳-1碳-(0-1.5)鈦合金之機械性質研究
無鉛焊錫合金概論
臺灣AOI設備應用現況與技術需求調查
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題名
次世代平面顯示器使用之低溫多晶矽晶粒尺寸檢測技術=
作者
郭啟全
;
期刊
機電整合
出版日期
20100700
卷期
143 2010.07[民99.07]
頁次
頁131-136
分類號
448.552
語文
chi
關鍵詞
次世代平面顯示器
;
線上光學檢測
;
晶粒尺寸
;
低溫多晶矽膜
;
光學檢測技術
;
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址