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題 名 | 利用原子力顯微鏡探討薄膜之表面自由能性質研究=Surface Free Energy of Thin Films Investigated Using Atomic Force Microscopy |
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作 者 | 孫承正; 李淑齡; 陶家瑞; 廖坤厚; 張銘康; | 書刊名 | 航空技術學院學報 |
卷 期 | 7:1 2008.08[民97.08] |
頁 次 | 頁231-236 |
分類號 | 472.15 |
關鍵詞 | 表面自由能; 表面粗糙度; 原子力顯微鏡; Surface roughness; Surface free energy; Atomic force microscopy; |
語 文 | 中文(Chinese) |