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題 名 | Fault Diagnosis in ATE's Analog Circuit Modules Using Parameter Estimation=自動測試裝備類比電路之自動診錯研究 |
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作 者 | 柯德祥; 林家傑; | 書刊名 | 中華技術學院學報 |
卷 期 | 19 1999.09[民88.09] |
頁 次 | 頁28-34 |
分類號 | 448.537 |
關鍵詞 | 自動測試裝備; 自動診錯; 參數估算法; 時域分析; 類比電路; Automatic test equipment; Fault diagnosis; Parameter estimation; Time domain analysis; Analog circuit; |
語 文 | 英文(English) |
中文摘要 | 本文以參數估算法與功能測試,對類比電路模組作自動化診錯研究,確保類比電 路之功能正常與簡化故障之診斷維修。並以時域分析代替頻域分析,配合輸入訊號為步階函 數,大量減少測試之資料擷取、時間與成本。配合功能測試,選取適當測試點與加入額外已 知測試元件,增加其可測性,快速計算出參數值。此法所用電腦主機、切換單元與訊號產生 器,均為自動測試裝備既有設備,不需添加額外設備。並將研究方法實際植入自動測試裝備 ,可使類比電路模組之現場維修能力,由模組層次提升為至單板、元件層次。 |
英文摘要 | A parameter estimation approach and function testing are presented embedded in the automatic test equipment (ATE) for fault diagnosis of analog equipment in the time domain. The aim is to use dynamic models to enable the estimation of all components of analog circuit modules that are influenced by faults. The algorithm reduces fault diagnosis time because it uses a step input based on time domain rather than other wave stimuli based on frequency domain. It increases the user's maintainability from Line Replaceable Unit (LRU) level to component level. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。