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題 名:
Fault Diagnosis in ATE's Analog Circuit Modules Using Parameter Estimation:自動測試裝備類比電路之自動診錯研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19 1999.09[民88.09]
- 頁 次:
頁28-34
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
165 1999.12[民88.12]
- 頁 次:
頁166-171
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:3 1999.09[民88.09]
- 頁 次:
頁453-461
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁78-84
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題 名:
Fault Diagnosis in Analog Circuits Using LabVIEW:類比電路之圖控自動診錯系統
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁18-25
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題 名:
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題 名:
Analog Fault Diagnosis with Component Tolerant Errors:具有元件容許誤差之類比電路故障診斷
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:2 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁101-112
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題 名:
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題 名:
A Hierarchical RCFD Scheme for Large-Scale Analog Circuits:使用層級式強健元件故障偵測架構進行大型類比電路診斷
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 2001.06[民90.06]
- 頁 次:
頁439-449
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:2 2000.06[民89.06]
- 頁 次:
頁539-549
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:11=16 1996.11[民85.11]
- 頁 次:
頁66-71
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2 1995.06[民84.06]
- 頁 次:
頁267-274
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:2=7 1996.02[民85.02]
- 頁 次:
頁67-76
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5 1992.04[民81.04]
- 頁 次:
頁52-63
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28 1995.11[民84.11]
- 頁 次:
頁437-443
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- 題 名:
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編 次:
下
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
216 2004.03[民93.03]
- 頁 次:
頁191-196
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
52 1983.11[民72.11]
- 頁 次:
頁138-144
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
51 1983.10[民72.10]
- 頁 次:
頁165-168
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:4 1987.07[民76.07]
- 頁 次:
頁363-374
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:4 1987.07[民76.07]
- 頁 次:
頁453-462
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
54:1 1986.01[民75.01]
- 頁 次:
頁176-180
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
46 1983.05[民72.05]
- 頁 次:
頁135-141