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題名 | 探針卡印刷電路板電鍍銅製程關鍵參數搜尋之資料挖礦架構與實證研究=Data Mining Framework for Probe Card PCB Critical Parameters and Empirical Study for Copper Processing Technology |
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作者姓名(中文) | 王俊堯; 陳暎仁; 簡禎富; | 書刊名 | 品質學報 |
卷期 | 25:6 2018.12[民107.12] |
頁次 | 頁361-379 |
分類號 | 494.56 |
關鍵詞 | 資料挖礦與大數據分析; 良率提升; 錯誤偵測與分類; 探針卡印刷電路板; 半導體製造; Data mining and big data analytic; Yield improvement; Fault detection and classification; Probe card PCB; Semiconductor manufacturing; |
語文 | 中文(Chinese) |