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題 名 | 新世代原子力顯微鏡成像技術--PeakForce Tapping模式與其衍生量測模式=New Generation Imaging Technique of Atomic Force Microscope--PeakForce Tapping Mode and Relative Deviated Mode |
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作 者 | 林宏旻; 陳彥甫; 張家榮; | 書刊名 | 科儀新知 |
卷 期 | 34:3=191 2012.12[民101.12] |
頁 次 | 頁35-45 |
專 輯 | 掃描探針顯微術專題 |
分類號 | 471.713 |
關鍵詞 | 探針量測; PeakForce Tapping模式; 原子力顯微鏡; |
語 文 | 中文(Chinese) |