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題名 | 晶圓探針測試之溫度影響探討及改善方法=An Investigation in Temperature Effects with an Improvement Approach of Wafer Probing Test |
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作者姓名(中文) | 王政龍; 籃山明; | 書刊名 | 先進工程學刊 |
卷期 | 7:3 2012.07[民101.07] |
頁次 | 頁109-114 |
分類號 | 448.57 |
關鍵詞 | 銲墊刮痕; 探針卡; 針測行程; 探針預熱; Bonding pad scratch; Probe card; Overdrive; Probe preheating; |
語文 | 中文(Chinese) |