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題 名 | Prediction of the Roughness of an Ultra-precision Machined Surface from Light Scattering by a Photo Diode Array=以陣列光電二極體量測反射光散射預測超精密加工表面之粗糙度 |
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作 者 | 蔡習訓; 馮慧平; | 書刊名 | 技術學刊 |
卷 期 | 27:1 2012.03[民101.03] |
頁 次 | 頁21-26 |
分類號 | 446.8405 |
關鍵詞 | 表面粗糙度; 超精密加工; 光散射效應; Surface roughness; Ultra-precision machining; Light scattering; |
語 文 | 英文(English) |