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來源資料
零組件雜誌
167 民94.09
頁90-92
電機工程
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題 名
SoC晶片測試策略
作 者
Kelly, Neil
;
書刊名
零組件雜誌
卷 期
167 民94.09
頁 次
頁90-92
分類號
448.57
關鍵詞
SoC晶片
;
晶片測試
;
語 文
中文(Chinese)
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