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題名 | 掃描探針顯微鏡於軟物質與半導體之應用 |
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作者姓名(中文) | 戴椿河; 黃宏勝; 周有偉; | 書刊名 | 工業材料 |
卷期 | 213 2004.09[民93.09] |
頁次 | 頁156-164 |
專輯 | 奈米平臺技術特刊 |
分類號 | 337.97 |
關鍵詞 | 原子力顯微鏡; 掃描電容顯微鏡; 軟物質; Atomic force microscopy; AFM; Scanning capacitance microscope; SCM; Soft materials; |
語文 | 中文(Chinese) |