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題名 | 掃描探針顯微鏡之原理與應用簡介 |
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作者姓名(中文) | 姚斌誠; | 書刊名 | 工業材料 |
卷期 | 203 2003.11[民92.11] |
頁次 | 頁123-128 |
分類號 | 337.97 |
關鍵詞 | 掃描穿隧電流顯微鏡; 原子力顯微鏡; 靜電力顯微鏡; 磁力顯微鏡; 掃描近場光學顯微鏡; 掃描電容顯微鏡; Scanning tunneling microscope; STM; Atomic force microscope; AFM; Electrostatic force microscopy; EFM; Magnetic force microscopy; MFM; Scanning near-field optical microscopy; SNOM; Scanning capacitance microscopy; SCM; |
語文 | 中文(Chinese) |