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量測資訊
93 2003.09[民92.09]
頁35-44
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題名
掃描探針顯微術產業應用現況與展望=
作者
戴鴻名
;
期刊
量測資訊
出版日期
200309
卷期
93 2003.09[民92.09]
頁次
頁35-44
分類號
471.713
語文
chi
關鍵詞
掃描探針顯微術
;
掃描穿隧顯微鏡
;
Scanning tunneling microscope
;
STM
;
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