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來源資料
量測資訊
80 2001.07[民90.07]
頁27-31
電學;電子學
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電子光學;離子光學 Electron ; Ion Optics
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匯出書目
題名
掃描探針技術之新發展
作者
果尚志
;
吳忠霖
;
書刊名
量測資訊
卷期
80 2001.07[民90.07]
頁次
頁27-31
專輯
奈米技術
分類號
337.97
關鍵詞
奈米技術
;
掃描探針顯微術
;
SPM
;
語文
中文(Chinese)
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