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題名 | 利用FIM與STM來觀看並操縱固體表面原子 |
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作者姓名(中文) | 鄭天佐; | 書刊名 | 科儀新知 |
卷期 | 19:2=100 1997.10[民86.10] |
頁次 | 頁53-59 |
分類號 | 471.713 |
關鍵詞 | 場離子顯微鏡; 掃描隧道顯微鏡; 操縱固體表面原子; FIM; STM; |
語文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 利用場離子顯微鏡( FIM )和掃描隧道顯微鏡( STM ),我們可直接觀察到表 面的原子及其排列情形,並且也可以有控制的來移動這些原子。在此,作者描述此兩種顯微 鏡之簡單操作原理,並以幾個最近熱門研究題目做例子,來說明原子分辨率顯微學的可能應 用,及其對基礎科學研究的重要性。由於高科技材料中結構的尺寸逐年減小,原子分辨率顯 微鏡在應用科技發展上的重要性也逐漸受到注意。 |
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