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來源資料
機械工業
199 1999.10[民88.10]
頁148-156
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匯出書目
題名
IC測試元件研製上的探討
作 者
黃 文
;
書刊名
機械工業
卷期
199 1999.10[民88.10]
頁次
頁148-156
專輯
自動化暨關鍵零組件應用技術專輯
分類號
448.533
關鍵詞
插座
;
積體電路測試
;
積體電路封裝
;
Socket
;
IC test
;
IC package
;
語文
中文(Chinese)
中文摘要
說明測試用 IC SOCKET 如何以使用者的觀點和合於國際標準 (EIA-540GOOO) 來做設計,並在設計時應考慮量產製造時的問題,以減少產品開發的時程,加速產品上線的 時間點,以便能配合上多變性的半導體產業。
本系統之摘要資訊系依該期刊論文摘要之資訊為主。
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