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來源資料
檢測科技
15:2 民86.03-04
頁58-64
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題名
非破壞性X光螢光膜厚之檢測=Nondestructive Coating Thickness Measurement by X-Ray Fluorescent
作者
林志勇
;
陳志冠
;
許傳宗
;
書刊名
檢測科技
卷期
15:2 民86.03-04
頁次
頁58-64
分類號
343.318
關鍵詞
非破壞性檢測
;
X光螢光
;
量測
;
語文
中文(Chinese)
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