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來源資料
臺灣博物
29:4=108 2010.12[民99.12]
頁62-65
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題名
顯微X光螢光光譜儀--文物非破壞性化學成分檢測利器=X-ray Fluorescence Spectrometer: Instrument of Non-destructive Chemical Analysis for Artifacts
作者姓名(中文)
方建能
;
書刊名
臺灣博物
卷期
29:4=108 2010.12[民99.12]
頁次
頁62-65
關鍵詞
顯微X光螢光光譜儀
;
非破壞性檢測
;
NDT
;
語文
中文(Chinese)
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