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題 名 | 在檢驗誤差影響下,子系統之機率性允差設計 |
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作 者 | 古東源; 陳黛金; | 書刊名 | 國立雲林技術學院學報 |
卷 期 | 2 1993.06[民82.06] |
頁 次 | 頁1-6 |
分類號 | 494.56 |
關鍵詞 | 允差設計; 上位品質特性; 下位品質特性; 檢驗誤差; Tolerance design; Inspection error; Hihger level quality characteristic; Lower lavel quality characteristic; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 當產品的品質特性有上位(higher level)及下位(lower level)之分時, 上位品質特性往往受制於下位品質特性,此時下位品質特性之允差設計,對產 品品質的優劣有重大的影響。關於下位品質特性允差之決定,田口玄一率先使 用確定性的直線數學函數:Y=α+βX,以推導下位品質特性之允差設計。 蔡憲唐 更以機率性模式:Y=α+βX+ε,在二元常態分配的假設,導出 望目特性之機率性子系統允差設計。但是,這兩位學者在他們的模式中,均未 考量檢驗誤差的影響。本論文乃是在假設上、下位品質特性皆為 望目特性且 呈二元常態分配的條件下,考量檢誤差的影響,以機率性模式求解下位品質特 性之允差設計。 |
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