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題名 | 非破壞性X光螢光膜厚之檢測=Nondestructive Coating Thickness Measurement by X-Ray Fluorescent |
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作者 | 林志勇; 陳志冠; 許傳宗; Lin, J. Y.; Chen, C. K.; Hsu, C. T.; |
期刊 | 檢測科技 |
出版日期 | 199703、199704 |
卷期 | 15:2 民86.03-04 |
頁次 | 頁58-64 |
分類號 | 343.318 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 非破壞性檢測; X光螢光; 量測; |