查詢結果分析
來源資料
相關文獻
- 結合MSA與SPC手法建立異常量測系統之處理流程--以印刷電路板為例
- ISO/TS 16949在鋁合金重力鑄造廠的應用
- 製程間具相關數據之趨勢模型偵測探討
- Distributional Property of the Incapability Index C抅抅 Under Edgeworth Series Distribution for Processes with Symmetric Tolerances
- An Integrated Approach to Semiconductor Equipment Monitoring
- 軟體品質保證系統:架構與個案之探討
- 類神經網路於製程管制之應用:具相關性數據特性模型之偵測與分析
- 提昇製程品質控制績效之研究--結合管制圖與移動平均控制法
- 製程能力分析與改善
- 多重變異來源特性之半導體製程取樣與統計製程管制策略
頁籤選單縮合
| 題 名 | 結合MSA與SPC手法建立異常量測系統之處理流程--以印刷電路板為例=Developing a Procedure for Managing Abnormal Measurement Systems by Integration MSA and SPC Methodologies--A Case Study on Printed Circuit Boards |
|---|---|
| 作 者 | 陳佩雯; 陳來發; | 書刊名 | 品質學報 |
| 卷 期 | 31:5 2024.10[民113.10] |
| 頁 次 | 頁311-323 |
| 分類號 | 555.6 |
| 關鍵詞 | 量測系統分析; 統計製程管制; 管制外行動方案; Measurement system analysis; Statistical process control chart; Out-of-control action plan; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |