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來源資料
機械月刊
39:1=450 2013.01[民102.01]
頁10-18
精密機械工藝
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測定儀器
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題 名
由3D IC檢測技術來看臺灣未來檢測設備產業的機會
作 者
顧逸霞
;
田立芬
;
黃卯生
;
書刊名
機械月刊
卷 期
39:1=450 2013.01[民102.01]
頁 次
頁10-18
專 輯
精密量測與檢測設備專輯
分類號
471.3
關鍵詞
矽通孔
;
對準
;
紅外顯微檢測技術
;
反射儀
;
語 文
中文(Chinese)
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