您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
指令檢索
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
電光先鋒
21 2012.12[民101.12]
頁59-65
電機工程
>
電燈廠
相關文獻
3DIC盲矽穿孔(Blind TSV)與矽晶圓電性量測技術
先進3DIC製程之矽穿孔(TSV)元件等效電路模型研究
矽穿孔(TSV)元件之耦合效應(Coupling Effect)研究
3DIC TSV Insulator Liner/Barrier/Seed Layer技術介紹
利用3DIC矽穿孔製程技術開發積體電感元件之研究
3DIC技術精選專利解析
矽晶圓
從12吋矽晶圓0.18微米製程來看未來封裝技術之發展
矽晶圓
積體電路(IC)用矽晶圓材料製造技術
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
3DIC盲矽穿孔(Blind TSV)與矽晶圓電性量測技術
作 者
洪瑞鋒
;
陳鵬書
;
書刊名
電光先鋒
卷 期
21 2012.12[民101.12]
頁 次
頁59-65
分類號
448.57
關鍵詞
矽穿孔
;
電性量測
;
矽晶圓
;
3DIC
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址