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題名 | 原子力顯微鏡在奈米鑑識上之展望=Forensic Applications of Atomic Force Microscopy--The Nano Point of View |
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作者姓名(中文) | 阮惇威; 陳用佛; | 書刊名 | 警學叢刊 |
卷期 | 42:3=199 2011.11-12[民100.11-12] |
頁次 | 頁119-131 |
分類號 | 587.834 |
關鍵詞 | 原子力顯微鏡; 奈米鑑識; 奈米科技; Atomic force microscope; Forensic science; Nanotechnology; |
語文 | 中文(Chinese) |