您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
指令檢索
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
系統晶片
11 2009.12[民98.12]
頁17-24
電機工程
>
電燈廠
相關文獻
IEEE P1687 (IJTAG)測試標準介紹
未來積體電路的趨勢--單晶片系統
低雜訊輸出緩衝電路之設計
Microcontroller 微控制器
小型專家系統:IBM-PC電腦維修系統設計
更新穎且收縮自如的多媒體晶片
A Hierarchical Test Control Architecture for SOC Design
光電互連系統之直接晶片鍵合技術
現代電源管理控制晶片常用的電路保護設計
高整合性無線通訊系統晶片的未來--CMOS射頻積體電路設計
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
IEEE P1687 (IJTAG)測試標準介紹=Introduction to IEEE P1687 (IJTAG) Test Standard
作 者
黃秉偉
;
蒯定明
;
李進福
;
書刊名
系統晶片
卷 期
11 2009.12[民98.12]
頁 次
頁17-24
分類號
448.57
關鍵詞
電路
;
晶片
;
存取標準
;
IEEE P1687
;
IJTAG
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址