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題 名 | A Hierarchical Test Control Architecture for SOC Design=單晶片系統之階層式測試控制架構 |
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作 者 | 李昆忠; 黃正儀; | 書刊名 | Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering |
卷 期 | 8:4 2001.11[民90.11] |
頁 次 | 頁355-363 |
分類號 | 448.552 |
關鍵詞 | 單晶片系統; 階層式測試控制; 核心電路測試; SOC; P1500; Hierarchical test control; Core-based testing; |
語 文 | 英文(English) |