您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
零組件雜誌
201 2008.07[民97.07]
頁136-139
電機工程
>
電燈廠
相關文獻
雙載子積體電路的ESD保護設計
靜電放電測試法的現狀和展望--多樣化產品,使用環境的ESD測試法
電子產品ESD認證測試及防制技術
靜電破壞(ESD)觀念簡介
測試封裝過程中精密元件暴露於靜電放電之危害
搭載低電容ESD防護元件於射頻低雜訊放大器之新式匹配設計
奈米晶片靜電放電防護技術
功率電晶體IC之ESD破壞分析及保護電路設計
電力電子--VDMOS功率電晶體IC之靜電破壞研究
功率MOS元件ESD保護電路設計
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
雙載子積體電路的ESD保護設計
作 者
Dolese, John
;
書刊名
零組件雜誌
卷 期
201 2008.07[民97.07]
頁 次
頁136-139
分類號
448.57
關鍵詞
雙載子積體電路
;
靜電放電
;
ESD
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址