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題 名 | 磁鐵礦磊晶薄膜的高解析度X光結構分析=High Resolution XRD of Epitaxial Fe[feb0]O[feb2]Film |
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作 者 | 譚言正; 洪雪行; 陳恭; | 書刊名 | 嘉義大學學報 |
卷 期 | 74 2003.04[民92.04] |
頁 次 | 頁67-76 |
分類號 | 337.472 |
關鍵詞 | 分子束磊晶法; 徑向掃描; 近吸收邊緣異常繞射結構; 共振X光散射; MBE; Molecular beam epitaxy; Radial scan; DANES; Diffraction anomalous near edge structure; Resonant x-ray scattering; |
語 文 | 中文(Chinese) |