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來源資料
科儀新知
22:2=118 2000.10[民89.10]
頁39-46
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題名
X光反射率於薄膜分析上之應用
作者
李信義
;
書刊名
科儀新知
卷期
22:2=118 2000.10[民89.10]
頁次
頁39-46
專輯
X光繞射技術專題
分類號
343.318
關鍵詞
X光反射率
;
薄膜分析
;
語文
中文(Chinese)
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