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來源資料
刑事科學
47 1999.03[民88.03]
頁11-22
訴訟法
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題 名
以掃瞄電子顯微/X射線能譜分析法鑑析紙張上鉛筆墨跡之研究=The Application of Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-ray Analysis to the Study of Pencil Marks
作 者
孟憲輝
;
徐健民
;
洪漢周
;
楊詔凱
;
書刊名
刑事科學
卷 期
47 1999.03[民88.03]
頁 次
頁11-22
分類號
586.662
關鍵詞
掃瞄電子顯微分析法
;
X射線能譜分析法
;
紙張
;
鉛筆墨跡
;
鑑識
;
語 文
中文(Chinese)
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