題名 |
掃描電子顯微/X射線能譜分析法在微量證物鑑識的應用=Applications of Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-ray Spectrometry to Forensic Examination of Trace Evidence
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作者姓名(中文) |
孟憲輝;
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書刊名 |
科儀新知 |
卷期 |
33:4=186 2012.02[民101.02]
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頁次 |
頁15-24 |
專輯 |
鑑識科學儀器及應用專題
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分類號 |
586.663 |
關鍵詞 |
掃描電子顯微/X射線能譜分析法;
微量證物;
鑑識科學;
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語文 |
中文(Chinese) |