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題名 | 電化學法探討單晶碳化矽在濃鹽酸下的腐蝕行為=Electrochemical Corrosion of Single Crystal Silicon Carbide in the HCl |
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作者 | 陳建仲; 薛文景; Chen, Jame J.; Say, Wen C.; |
期刊 | 防蝕工程 |
出版日期 | 199706 |
卷期 | 11:2 1997.06[民86.06] |
頁次 | 頁72-77 |
分類號 | 440.23 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 碳化矽; 鈍化膜; 交流阻抗法; 直流測試法; 等效電路; Silicon carbide; Passive film; A.C Impedance; D.C Polarization measurements; Quivalent circuit; |