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來源資料
高雄工學院學報
1 1994.06[民83.06]
頁49-63
電機工程
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電燈廠
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題名
Determination of Metal Contamination of Bipolar and MOSFET Transistors from Generation-Recombination Noise=由雜訊來檢定電晶體元件的金屬雜質
作者
楊炳焜
;
書刊名
高雄工學院學報
卷期
1 1994.06[民83.06]
頁次
頁49-63
分類號
448.57
關鍵詞
元件
;
金屬
;
電晶體
;
檢定
;
雜訊
;
雜質
;
語文
英文(English)
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