您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
指令檢索
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
電子發展月刊
146 1990.02[民79.02]
頁12-18
電機工程
>
電燈;照明電器
相關文獻
接觸區電子遷移與故障分析技術
有關毫米波技術新進展之研究
溫度梯度對等溫電子遷移測試的影響
半導體元件可靠度簡介--熱載子效應
電子電路故障檢修評量模式研究
多層組內連線中的電子遷移及應力遷移現象
電子顯微鏡故障診斷專家系統
Electron Tunneling and Energy Gap in Y-Ba-Cu-O Thin Films
微結構分析技術在電子元件故障構因分析上的應用及案例
建立產品故障診斷之機制,防範危害事件之發生
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
接觸區電子遷移與故障分析技術
作 者
張振臺
;
書刊名
電子發展月刊
卷 期
146 1990.02[民79.02]
頁 次
頁12-18
分類號
448.5
關鍵詞
故障
;
接觸區
;
電子
;
遷移
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址