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來源資料
臺灣商品檢測驗證中心季刊
144 2025.10[民114.10]
頁31-38
電腦科學
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人工智慧
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題 名
從東京IT展看未來:人工智慧如何革新儀器檢測與校正技術至客戶服務
作 者
羅啟文
;
書刊名
臺灣商品檢測驗證中心季刊
卷 期
144 2025.10[民114.10]
頁 次
頁31-38
專 輯
AI與智能產品之檢測技術應用
分類號
312.83
關鍵詞
人工智慧
;
儀器檢測
;
校正技術
;
客戶服務
;
東京IT展
;
語 文
中文(Chinese)
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