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| 題 名 | 電子顯微鏡微區成份分析=Micro-Analysis by Electron Microscopy |
|---|---|
| 作 者 | 鮑忠興; | 書刊名 | 真空科技 |
| 卷 期 | 37:1 2024.03[民113.03] |
| 頁 次 | 頁18-34 |
| 分類號 | 471.73 |
| 關鍵詞 | 成份分析; 高能電子; 空間解析度; 能量解析度; 元素化學鍵結狀態; Composition analysis; High energy electron beam; Spatial resolution; Energy resolution; Chemical bonding state of elements; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |