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| 題 名 | 次兆赫光電通訊元件之頻譜特性檢測技術 |
|---|---|
| 作 者 | 劉子安; 林高祺; 吳俊斌; 湯士源; 黎宇泰; | 書刊名 | 量測資訊 |
| 卷 期 | 216 2024.06[民113.06] |
| 頁 次 | 頁8-18 |
| 分類號 | 448.6 |
| 關鍵詞 | 光電通訊元件; 兆赫波; 量測; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |
| 中文摘要 | 下世代高速通訊相關元件開發過程中,需要合適的檢測技術。在高速矽光子光電轉換元件方 面,說明目前利用電子式與光學式頻寬量測方式,預期可達到>200 Gb/s的量測頻寬。在通訊材 料與電磁波空間分布量測方面,開發以兆赫時域頻譜分析系統搭配可量測穿透與不同反射角的架 構,以0度入射角為例,接收反射角度從14度到 90度; 以 90度入射角為例,接收反射角度從-76 度到 90度,解析度1度,可量測上述水平角在0.1 THz ~ 1 THz間之兆赫波強度。實際量測四氟 乙烯、 ε-Fe2O3等高頻材料的介電與磁導常數頻譜,以及十字型重複性金屬結構的繞射空間頻譜 分布。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。