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題名 | 同步輻射X光繞射實驗技術於奈米級別二維結構結晶分析以及應用=Application of Synchrotron X-ray Diffraction Technology for Crystal State of Nano-scale 2D Materials |
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作者姓名(中文) | 林彥谷; 邱上睿; 何良璟; | 書刊名 | 真空科技 |
卷期 | 36:1 2023.03[民112.03] |
頁次 | 頁22-29 |
分類號 | 349.3 |
關鍵詞 | 二維材料; X光繞射; X光反射; 同步輻射; 2D material; X-ray diffraction; X-ray reflection; Synchrotron radiation source; |
語文 | 中文(Chinese) |