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題 名 | 晶圓測試探針卡設計與製造=Design and Manufacture of Wafer Test Probe Card |
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作 者 | 周敏傑; 黃萌祺; 高端環; 黃悅真; 黃鄭隆; | 書刊名 | 機械工業 |
卷 期 | 459 2021.06[民110.06] |
頁 次 | 頁16-25 |
專 輯 | 半導體光電與產業設備技術專輯 |
分類號 | 484.51 |
關鍵詞 | 探針卡; 微機電; 影像感測器; Probe card; Micro electromechanical system; Image sensor; |
語 文 | 中文(Chinese) |