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| 題 名 | Study on the Influence of Surface Roughness in Fluorescent MPI=表面粗糙度對螢光磁粉檢測的影響研究 |
|---|---|
| 作 者 | 李龍; 楊芸; 張繼楷; 康宜華; | 書刊名 | 先進工程學刊 |
| 卷 期 | 11:3 2016.07[民105.07] |
| 頁 次 | 頁117-121 |
| 分類號 | 440.12 |
| 關鍵詞 | 螢光磁粉探傷; 磁痕; 表面粗糙度; 模擬; 缺陷識別; Fluorescent MPI; Crack indication; Surface roughness; Ra; Simulation; Defect recognition; |
| 語 文 | 英文(English) |