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| 題 名 | 應用變異數分析於奈米量測能力之實驗室間比對=The Application of Analysis of Variance to Nanoscale Measurement Interlaboratory Comparisons |
|---|---|
| 作 者 | 林秀璘; | 書刊名 | 先進工程學刊 |
| 卷 期 | 11:2 2016.04[民105.04] |
| 頁 次 | 頁89-94 |
| 分類號 | 440.12 |
| 關鍵詞 | 變異數分析; 實驗室間比對; 奈米粒子; 薄膜厚度; Analysis of variance; Interlaboratory comparisons; Nanoparticles; Thin film thickness; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |