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題名 | 應用變異數分析於奈米量測能力之實驗室間比對=The Application of Analysis of Variance to Nanoscale Measurement Interlaboratory Comparisons |
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作者姓名(中文) | 林秀璘; | 書刊名 | 先進工程學刊 |
卷期 | 11:2 2016.04[民105.04] |
頁次 | 頁89-94 |
分類號 | 440.12 |
關鍵詞 | 變異數分析; 實驗室間比對; 奈米粒子; 薄膜厚度; Analysis of variance; Interlaboratory comparisons; Nanoparticles; Thin film thickness; |
語文 | 中文(Chinese) |