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來源資料
科儀新知
206 2016.03[民105.03]
頁19-26
電機工程
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電燈;照明電器
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題名
電極接面對掃描電容顯微術之影響=Influences of Electrode Junctions on Scanning Capacitance Microscopy
作者姓名(中文)
張茂男
;
詹淙宇
;
陳致仰
;
莊詠涵
;
書刊名
科儀新知
卷期
206 2016.03[民105.03]
頁次
頁19-26
專輯
奈米檢測專題
分類號
448.5
關鍵詞
掃描電容顯微術
;
電極接面
;
微分電容影像
;
語文
中文(Chinese)
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